三豐表面粗糙度儀SV-3200

1.評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。

2. 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。

3.標配高分辨率的Z1軸檢出器，高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

4.Z1軸的高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

5. X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實現X軸方向移動的高精準定位。SV-3200系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性，延長使用壽命。

6.X軸的分辨力為0.05μm。

7.標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。

8.驅動裝置中的DAT功能可以輕松調整測量工件的水平。

9.表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度實現了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 

10.通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現了高生產能力。 實現了高別定位速度(X軸：大80mm/s,Z軸：大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。

規格：型號：SV-3200S4          SV-3200H4            SV-3200W4                  SV-3200S8                    SV-3200H8               SV-3200W8